ISSN 2594-5327
73º Congresso Anual da ABM — vol. 73, num.73 (2018)
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Resumo
No âmbito industrial, a determinação de fases cristalográficas presentes nos aços deve ser executada de forma rápida e precisa. A Difração de Raios-X (DRX) é a técnica empregada que permite a análise de quantificação de fase. Neste trabalho, amostras de um dado aço laminado, contendo duas fases (austenita e ferrita) foram medidas utilizando a Difração de Raios-X por meio de quatro metodologias distintas, sendo elas as de Intensidade Relativa, Área Integrada, Refinamento de Rietveld Automático e Refinamento de Rietveld Manual. As três primeiras foram executadas no software HighScore Plus e a última foi realizada no software FullProf 2.05. Após avaliação comparativa dos parâmetros de qualidade estatística associada aos resultados de quantificação, utilizando as quatro metodologias, observou-se que a qualidade do ajuste do método de Rietveld Automático via HighScore é similar ao do FullProf, entretanto a primeira opção é a mais adequada para obtenção de resultados rápidos e eficientes, não necessitando de um conhecimento profundo do operador.
In the industrial sphere, the determination of crystallographic phases present in steels must be executed quickly and accurately. X-ray diffraction (XRD) is the technique employed to allow phase-quantization analysis. In this work, samples from rolled steel containing two phases (austenite and ferrite) were measured using by X-ray diffraction with four different methodologies: Relative Intensity, Integrated Area, Automatic Rietveld Refinement and Manual Rietveld Refinement. The first three were measured by HighScore Plus software and the last one was performed in the FullProf 2.05 software. After comparing the statistical quality parameters associated with the quantification results, using the four methodologies, it was observed that the quality of the adjustment of the Rietveld Automatic method by HighScore is similar to FullProf, however the first option is the most appropriated for obtaining fast and efficient results, not requiring a thorough knowledge of the technician.
Palavras-chave
Difração de Raios-X; Refinamento de Rietveld; Quantificação de Fases.
X-Ray Diffraction; Rietveld Refinement; Phase quantification.
Como citar
Miranda, Mariane Gonçalves de;
Orlando, Marcos Tadeu D\'Azeredo;
Martins, João Batista Ribeiro;
Rodrigues, Érica Simões;
Lima, Luciana Xavier da Cruz.
ANÁLISE COMPARATIVA ENTRE MÉTODOS DE QUANTIFICAÇÃO DE FASES EM AÇOS UTILIZANDO DRX
,
p. 2751-2759.
In: 73º Congresso Anual da ABM,
São Paulo,
2018.
ISSN: 2594-5327
, DOI 10.5151/1516-392X-279
