Título

AVALIAÇÃO DO TAMANHO DE CRISTALITO EM ÓXIDO DE GRAFENO POR DIFERENTES TÉCNICAS

EVALUATION OF CRYSTALLITE SIZE IN GRAPHENE OXIDE BY DIFFERENT TECHNIQUES

Autoria

Lima, Andreza Menezes; Faria, Géssica Seara; Flores, Jhonny Oswaldo Huertas; Cruz, Leila Rosa de Oliveira; Pinheiro, Wagner Anacleto

DOI

10.5151/1516-392X-30266

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Resumo

Dispersões de óxido de grafeno foram caracterizadas com respeito ao tamanho de cristalito e número de camadas, a partir do emprego das técnicas de difração de raios X, espectroscopia Raman e microscopia de força atômica. Todas as análises forneceram valores menores que dez camadas de carbono e concordantes com o reportado por outros autores. Os métodos de difração de raios X e microscopia de força atômica permitiram obter valores mais próximos, em comparação ao obtido por espectroscopia Raman.

 

Graphene oxide dispersions were characterized with respect to the crystallite size and number of layers, using the techniques of X-ray diffraction, Raman spectroscopy and atomic force microscopy. All the analyses provided values lower than ten layers of carbon, which are also reported by other authors. The methods of X-ray diffraction and atomic force microscopy allowed to obtain values closer, in comparison to that obtained by Raman spectroscopy.

Palavras-chave

óxido de grafeno, tamanho de cristalito, número de camadas.

graphene oxide, crystallite size, number of layers.