Título

CARACTERIZAÇÃO FÍSICA E MORFOLÓGICA DE COMPÓSITOS COBRE-GRAFENO

PHYSICAL AND MORPHOLOGICAL CHARACTERIZATION OF COPPER-GRAPHENE COMPOSITES

Autoria

Faria, Gessica Seara; Lima, Andreza Menezes; Brandão, Luiz Paulo Mendonça; Pinheiro, Wagner Anacleto

DOI

10.5151/1516-392X-307

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Resumo

O óxido de grafeno, que tem sido amplamente estudado, tem a sua caracterização dificultada quando empregado em materiais compósitos, pois em grande parte das aplicações é adicionado em teores muito baixos. Neste trabalho foram caracterizados compósitos com matriz de cobre, reforçados com óxido de grafeno reduzido termicamente durante a sinterização, utilizando as técnicas de difração de raios X (DRX), espectroscopia Raman e microscopia eletrônica de varredura (MEV). Por DRX foram identificados os picos referentes a estrutura do cobre, no entanto o pico associado a estrutura hexagonal do GO não foi observado. Por espectroscopia Raman foram identificadas as bandas D e G dos compósitos (em uma superfície de fratura) indicando a presença do GO na matriz de cobre. A presença de óxido de grafeno reduzido foi confirmada por MEV.

 

Graphene oxide, which has been widely studied, is difficult to characterize when used in composite materials, since in most applications is added at very low contents. In this work, copper matrix composites reinforced with graphene oxide, thermally reduced during sintering, were characterized using X-ray diffraction (XRD), Raman spectroscopy and scanning electron microscopy (SEM) techniques. By XRD, the peaks related to the copper structure were identified, however the peak associated with the GO hexagonal structure was not observed. By Raman spectroscopy, the D and G bands of the composites were identified (on a fracture surface) indicating the presence of the GO in the copper matrix. The presence of reduced graphene oxide was confirmed by SEM.

Palavras-chave

óxido de grafeno; compósitos com matriz de cobre; espectroscopia Raman; difração de raios X

graphene oxide; copper matrix composites; Raman spectroscopy; X ray diffraction