ISSN 2594-5327
60º Congresso Anual da ABM — vol. 60, num.60 (2005)
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Resumo
O objetivo desse trabalho é investigar os mecanismos de recristalização de aços elétricos submetidos a baixas deformações. Análises de textura e frequência de CSL (sítios de coincidência de rede) foram utilizadas na interpretação dos resultados. Dois principais mecanismos de recristalização são citados: SIBM (migração de contornos de grão induzida por deformação) e recristalização primária. Os resultados encontrados nesse trabalho são favoráveis à recristalização primária.
The objective of this paper is to investigate the recrystallization mechanisms of electrical steels after small deformation. Texture and CSL frequency analysis were used in the interpretation of results. Two main mechanisms are discussed, Strain Induced Boundary Migration (SIBM) and primary recrystallization, and the results seem to favour the last one.
Palavras-chave
Recristalização; SIBM; CSL; Aço elétrico.
Recrystallization, SIBM, CSL, Eletric steel.
Como citar
Landgraf, Fernando J.G.;
Castro, Nicolau A.;
Falleiros, Ivan G.S.;
Yonamine, Taeko;
Campos, Marcos F. de.
EFEITO DO RECOZIMENTO NA MICROESTRUTURA DE AÇO ELÉTRICO SEMI-PROCESSADO
,
p. 1697-1704.
In: 60º Congresso Anual da ABM,
Belo Horizonte,
2005.
ISSN: 2594-5327
, DOI 10.5151/2594-5327-0173
