ISSN 2594-5327
64º Congresso Anual da ABM — vol. 64, num.64 (2009)
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Resumo
Amostras policristalinas de Ba2Co2Fe12O22 foram preparadas pelo método convencional de reação de estado sólido. As amostras foram caracterizadas por Difração de Raios-X (DRX) apontando à obtenção de uma fase pura que concorda com o padrão da literatura. Os parâmetros de refinamento das amostras estão dentro do padrão aceitável do refinamento de Rietveld. As propriedades dielétricas em alta freqüência foram analisadas pela técnica Hakki-Coleman. O efeito de PbO e Bi2O3 nas propriedades dielétricas de Co2Y também foram estudadas e indicam que as amostras com PbO e PVA apresentaram melhor fator de qualidade (Q) e menor constante dielétrica (ε’r) e as preparadas com Bi2O3 e TEOS maior constante dielétrica e menor fator de qualidade.
Polycrystalline samples of Ba2Co2Fe12O22 were prepared by standard solid-state reaction method. The samples were characterized by X-ray diffraction (XRD) pointing to the attainment of a pure phase that agrees to the standard of literature. The parameters of refinement of the samples are inside of the acceptable standard of the refinement of Rietveld. The dielectric properties in high frequency were analyzed by the Hakki-Coleman technique. The effect of PbO and Bi2O3 on dielectric properties of Co2Y was also studied and they indicate that the samples with PbO and PVA presented enhanced quality of factor (Q) and minor dielectric constant (ε'r) and prepared with Bi2O3 and TEOS enhanced dielectric constant and minor dielectric constant.
Palavras-chave
Hexaferrita tipo Y; Reação de estado sólido; Hakki-Coleman.
Y-type hexaferrite; Solid-state reaction; Hakki-Coleman.
Como citar
Sales, Juscelino Chaves;
Pires, Guilherme Francisco de Morais;
Almeida, José Silva de;
Silva, Ana Carolina Fontenele;
Sales, Antônio Jefferson Mangueira;
Rodrigues, Herbert de Oliveira;
Sombra, Antônio Sérgio Bezerra.
ESTUDO E CARACTERIZAÇÃO DA HEXAFERRITA Ba2Co2Fe12O22 (Co2Y) PARA APLICAÇÃO EM DISPOSITIVOS DE MICROONDAS
,
p. 494-501.
In: 64º Congresso Anual da ABM,
Belo Horizonte,
2009.
ISSN: 2594-5327
, DOI 10.5151/2594-5327-14689