Título

ESTUDO SOBRE APLICAÇÕES DA TÉCNICA EBSD À ANÁLISE CRISTALOGRÁFICA EM MATERIAIS METÁLICOS

STUDY ON APPLICATIONS OF EBSD TECHNIQUE TO CRYSTALLOGRAPHIC ANALYIS ON METALLIC MATERIALS

Autoria

Barbosa, Cassio; Nascimento, Alan Menezes do; Santos, Claudio Teodoro dos

DOI

10.5151/2594-5327-34015

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Resumo

A ANÁLISE POR EBSD POSSIBILITA A OBTENÇÃO DE VÁRIOS DADOS CRISTALOGRÁFICOS, QUE PERMITEM O MAPEAMENTO DE FASES COM DIFERENTES ESTRUTURAS CRISTALINAS, MESMO COM COMPOSIÇÃO QUÍMICA MUITO SEMELHANTE, TEXTURAS CRISTALOGRÁFICAS/ORIENTAÇÕES PREFERENCIAIS, TAMANHO DE GRÃO, SUBGRÃOS E DESORIENTAÇÕES LOCAIS EM MICRORREGIÕES, ENTRE OUTROS DADOS. PERMITE OBTER, EM ESCALA MICROMÉTRICA, DADOS OBTIDOS COM A DIFRAÇÃO DE RAIOS X EM ESCALA MACROMÉTRICA. A INCIDÊNCIA DO FEIXE DIFRATADO DE ELÉTRONS RETROESPALHADOS NUMA TELA DE FÓSFORO PRODUZ NESTA AS CHAMADAS BANDAS DE KIKUCHI, QUE AO SEREM INDEXADAS POR MÉTODOS COMPUTACIONAIS, GERAM OS PADRÕES QUE ORIGINAM OS CHAMADOS MAPAS, QUE PERMITEM A REVELAM AS INFORMAÇÕES CRISTALOGRÁFICAS. O DESENVOLVIMENTO COMPUTACIONAL DAS ÚLTIMAS DÉCADAS (HARDWARE E SOFTWARE) ACELEROU OS PROCESSOS DE OBTENÇÃO, CALIBRAÇÃO E INDEXAÇÃO DE PADRÕES UTILIZADOS NA ANÁLISE CRISTALOGRÁFICA DE MATERIAIS CRISTALINOS, REALIZADOS A PARTIR DA DIFRAÇÃO DE ELÉTRONS RETROESPALHADOS (EBSD: "ELECTRON BACK SCATTER DIFFRACTION"), A PARTIR DA INCIDÊNCIA DE UM FEIXE DE ELÉTRONS PRIMÁRIOS, GERADOS NUM MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE VARREDURA (MEV). O OBJETIVO DESTE TRABALHO É CONTRIBUIR PARA AMPLIAR A DIVULGAÇÃO DESTA TÉCNICA, APRESENTANDO ALGUNS CONCEITOS TEÓRICOS E ALGUNS RESULTADOS PRÁTICOS DE ANÁLISES REALIZADAS, COM PROPÓSITO ILUSTRATIVO.

 

EBSD ANALYSIS ENABLES THE OBTENTION OF SEVERAL CRYSTALLOGRAPHIC DATA, WHICH ALLOW THE MAPPING OF PHASES WITH DIFFERENT CRYSTALLINE STRUCTURES, EVEN WITH VERY SIMILAR CHEMICAL COMPOSITION, PREFERENTIAL CRYSTALLOGRAPHIC TEXTURES / ORIENTATIONS, GRAIN SIZE, SUB-GRAINS AND LOCAL DISORIENTATIONS IN MICRO REGIONS, AMONG OTHER DATA . IT ALLOWS OBTAINING, ON A MICROMETRIC SCALE, DATA WHICH ARE OBTAINED WITH X-RAY DIFFRACTION ON A MACROMETRIC SCALE. THE INCIDENCE OF THE DIFFRACTED BEAM OF ELECTRONS SCATTERED ON A PHOSPHOR SCREEN PRODUCES IN IT THE SO-CALLED KIKUCHI BANDS, WHICH, WHEN INDEXED BY COMPUTATIONAL METHODS, GENERATE THE PATTERNS THAT ORIGINATE THE SO-CALLED MAPS, WHICH ALLOW THE DISCLOSURE OF CRYSTALLOGRAPHIC INFORMATION. THE COMPUTATIONAL DEVELOPMENT OF THE LAST DECADES (HARDWARE AND SOFTWARE) HAS ACCELERATED THE PROCESSES OF OBTAINING, CALIBRATING AND INDEXING THE STANDARDS USED IN THE CRYSTALLOGRAPHIC ANALYSIS OF CRYSTALLINE MATERIALS, CARRIED OUT USING ELECTRON BACK SCATTERED DIFFRACTION (EBSD: ELECTRON BACK SCATTER DIFFRACTION), FROM THE INCIDENCE OF A BEAM OF PRIMARY ELECTRONS, GENERATED IN A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (SEM). THE OBJECTIVE OF THIS WORK IS TO CONTRIBUTE TO EXPAND THE DISSEMINATION OF THIS TECHNIQUE, PRESENTING SOME THEORETICAL CONCEPTS AND SOME PRACTICAL RESULTS OF ANALYZES CARRIED OUT, FOR ILLUSTRATIVE PURPOSES.

Palavras-chave

EBSD; MEV; Materiais metálicos; Cristalografia.

EBSD; SEM; Metallic materials; Crystallography.