Título

INFLUÊNCIA DO MÉTODO DE QUANTIFICAÇÃO DE FASES NA ANÁLISE DA FORMAÇÃO DE SIGMA EM AÇO INOXIDÁVEL DUPLEX UNS S31803

INFLUENCE OF THE PHASE QUANTITATIVE METHODOLOGY IN THE ANALYSIS OF SIGMA PHASE FORMATION IN UNS S31803 DUPLEX STAINLESS STEEL

Autoria

Santos, Daniella Caluscio dos; Magnabosco, Rodrigo; Neto, Carlos de Moura

DOI

10.5151/2594-5327-20894

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Resumo

O objetivo deste trabalho compreende o estudo da influência do método de quantificação de fases na análise da formação de sigma em aço inoxidável duplex UNS S31803 no envelhecimento a 700ºC. Para isto, corpos-de-prova do material em estudo foram solubilizados a 1.175ºC, e em seguida envelhecidos entre 1 min e 360 h a 700ºC possibilitando a formação de diferentes teores de sigma. A caracterização microestrutural foi realizada pela técnica de microscopia óptica das amostras, onde foram utilizados ataques seletivos de 10% KOH eletrolítico e Behara Modificado. Além disso, foi realizada microscopia eletrônica de varredura para obtenção de imagens de elétrons retroespalhados das amostras, que também foram usadas na quantificação possibilitando a comparação das técnicas empregadas. A análise das amostras utilizando imagens de elétrons retroespalhados possibilita a identificação das fases sigma, chi e de nitretos de cromo. Para o estudo da formação de sigma, esta técnica mostra-se a mais adequada, já que consegue distinguir as fases intermetálicas formadas, e mediante o correto ajuste dos parâmetros do microscópio, consegue-se um melhor delineamento das fases formadas, impedindo estimativas equivocadas das frações das fases.

 

The main objective of this work is the evaluation of phase quantitative methodology in the determination of sigma phase content of UNS S31803 Duplex Stainless Steel aged at 700°C. Samples of the studied material were solution-treated at 1175°C and aged between 1 min to 360 h at 700°C resulting in different sigma contents. The microstructural characterization were carried by optical microscopy of the samples after metallographic electrolytic etch using the KOH 10% and modified Behara reagents. Furthermore, it was conducted the scanning electron microscopy obtaining backscattered electron images. The backscattered electrons image analysis enables the sigma, chi phases and nitrides differentiation. By this way, the study of sigma phase formation through this method seems to be the most indicated. By the correct microscope set-up, the correct phase differentiation is reached, suppressing measurements of the phase volume fractions.

Palavras-chave

Aço inoxidável dúplex; Fase sigma; Análise quantitativa.

Duplex stainless steel; Sigma phase; Quantitative analysis.