ISSN 2594-5327
57º Congresso anual — Vol. 57 , num. 1 (2002)
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Resumo
A análise metalográfica utiliza, normalmente, na preparação das amostras, o lixamento e polimento da superfície de interesse, seguido do ataque por um reagente específico microestrutural, visando destacar contornos de grão, fases e constituintes presentes. O ataque óptico utiliza-se de vários processos, pelos quais o aumento do contraste entre os componentes estruturais é conseguido variando-se apenas o sistema de iluminação empregado. No presente trabalho mostra-se a utilização dos sistemas de polarização, interferencial e campo escuro, na rotina de análise por microscopia óptica em um laboratório de ensino e pesquisa.
A análise metalográfica utiliza, normalmente, na preparação das amostras, o lixamento e polimento da superfície de interesse, seguido do ataque por um reagente específico microestrutural, visando destacar contornos de grão, fases e constituintes presentes. O ataque óptico utiliza-se de vários processos, pelos quais o aumento do contraste entre os componentes estruturais é conseguido variando-se apenas o sistema de iluminação empregado. No presente trabalho mostra-se a utilização dos sistemas de polarização, interferencial e campo escuro, na rotina de análise por microscopia óptica em um laboratório de ensino e pesquisa.
Palavras-chave
metalografia, sistema, contraste, polarização, microscopia óptica
metalografia, sistema, contraste, polarização, microscopia óptica
Como citar
Mattos, Giselle Barbosa de; Araújo, Victor Hugo Leal de; Lacerda, Augusto Cesar; Seixas, Milene Laurindo de; Moraes, Geise de Almeida; Baptista, André Luís de Brito; Ribas, Paulo Roberto Fogaça.
A metalografia colorida através do sistema de contraste óptico: polarização, interferência, campo escuro,
p. 1295-1302.
In: 57º Congresso anual,
São Paulo, Brasil,
2002.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-C01464
