ISSN 2594-5327
52º Congresso anual — Vol. 52 , num. 1 (1997)
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Resumo
A caracterização microestrutural do SiGQ (silício grau químico) pode ser uma importante ferramenta para o controle do processo de produção deste tipo de silício, com objetivo de se atingir elevados índices de reatividade e seletividade na síntese de metilclorosilanos que são matéria-prima para produção de silicones. A literatura menciona uma correlação entre a composição química do silício e sua microestrutura com os índices de reatividade e seletividade na síntese de silanos, que está associada principalmente com a morfologia, distribuição e composição química dos intermetálicos. Estes são formados durante a solidificação do silício devido à reduzida solubilidade de elementos tais como Ca, Al, Fe e Ti no silício sólido. Desta forma, foi desenvolvida no IPT uma técnica de preparação e análise microestrutural do silício visando correlacionar a composição química e os índices de estrutura com a reatividade e seletividade do silício grau químico. Esta atividade faz parte de um projeto em andamento no IPT com recursos FINEP dentro do PADCT. A análise da microestrutura foi realizada por microscopia óptica quantitativa para a medida de tamanho de grão e índice de estrutura. Os intermetálicos foram caracterizados quanto à composição química quantitativa por análise de energia dispersiva. A técnica desenvolvida se mostrou adequada para a caracterização do silício, indicando valores próximos aos obtidos na literatura com uma boa correlação com o processo de solidificação do silício, solidificação em molde com o banho aquecido à água. Uma correlação entre tamanho de grão e índice de estrutura pôde ser estabelecida para amostras de silício granuladas à água no IPT. Foram obtidos índices de estrutura entre 20 e 60 e tamanho médio de grão entre 80 e 160 μm em amostras de silício granuladas à água. A análise de superfície realizada em M.E.V. permitiu identificar diversas morfologias dos intermetálicos.
A caracterização microestrutural do SiGQ (silício grau químico) pode ser uma importante ferramenta para o controle do processo de produção deste tipo de silício, com objetivo de se atingir elevados índices de reatividade e seletividade na síntese de metilclorosilanos que são matéria-prima para produção de silicones. A literatura menciona uma correlação entre a composição química do silício e sua microestrutura com os índices de reatividade e seletividade na síntese de silanos, que está associada principalmente com a morfologia, distribuição e composição química dos intermetálicos. Estes são formados durante a solidificação do silício devido à reduzida solubilidade de elementos tais como Ca, Al, Fe e Ti no silício sólido. Desta forma, foi desenvolvida no IPT uma técnica de preparação e análise microestrutural do silício visando correlacionar a composição química e os índices de estrutura com a reatividade e seletividade do silício grau químico. Esta atividade faz parte de um projeto em andamento no IPT com recursos FINEP dentro do PADCT. A análise da microestrutura foi realizada por microscopia óptica quantitativa para a medida de tamanho de grão e índice de estrutura. Os intermetálicos foram caracterizados quanto à composição química quantitativa por análise de energia dispersiva. A técnica desenvolvida se mostrou adequada para a caracterização do silício, indicando valores próximos aos obtidos na literatura com uma boa correlação com o processo de solidificação do silício, solidificação em molde com o banho aquecido à água. Uma correlação entre tamanho de grão e índice de estrutura pôde ser estabelecida para amostras de silício granuladas à água no IPT. Foram obtidos índices de estrutura entre 20 e 60 e tamanho médio de grão entre 80 e 160 μm em amostras de silício granuladas à água. A análise de superfície realizada em M.E.V. permitiu identificar diversas morfologias dos intermetálicos.
Palavras-chave
silício, caracterização, silício grau químico
silício, caracterização, silício grau químico
Como citar
Kashiwabara, Joel Juniti; Nogueira, Paulo de Freitas; Rodrigues, Daniel; Neto, João Batista Ferreira.
CARACTERIZAÇÃO MICROESTRUTURAL DE SILÍCIO GRAU QUÍMICO,
p. 3087-3102.
In: 52º Congresso anual,
São Paulo, Brasil,
1997.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-C00196-3087-3102
