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Congresso Anual da ABM


ISSN 2594-5327

42º Congresso anual Vol. 42, Num. 1 (1987)


Título

Caracterização Mineralógica Qualitativa de Sínter por Difração de Raios-X

Autoria

DOI

10.5151/2594-5327-1987-42-v2-05-20

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Resumo

Este trabalho tem como objetivo a caracterização mineralógica qualitativa por difração de raios-X de sinteres e das matérias-primas empregadas na sua fabricação. Para tanto, foram preparadas amostras de sinteres com teor fixo de moinha de coque e variados os teores de areia, calcário, dunito e dolomito, com a finalidade de se obter os compostos que são normalmente neles encontrados em função das variações de basicidade. Os procedimentos experimentais foram realizados nos laboratórios do Centro de Pesquisas da Companhia Siderúrgica Nacional, no Laboratório de Raios-X do Centro de Tecnologia Mineral e na Divisão de Tecnologias Indiferenciadas do Instituto Nacional de Tecnologia fruto do Convênio de Cooperação Técnica destas Instituições.

 

Palavras-chave

sinterização, difração de raios-X, caracterização mineralógica

Como citar

Greca, Maria Conceição; Pietroluongo, Luiz Roberto do Valle; Baliza, Sebastião Vitor; Pereira, Eduardo Alberto da Costa. Caracterização Mineralógica Qualitativa de Sínter por Difração de Raios-X, p. 721-736. In: 42º Congresso anual, Salvador, Brasil, 1987.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-1987-42-v2-05-20