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Seminário de Aciaria, Fundição e Metalurgia de Não-ferrosos


ISSN 2594-5300

27º Seminário de Aciaria Vol. 01 , num. 27 (1996)


Título

CARACTERIZAÇÃO QUÍMICA E MINERALÓGICA EM REFRATÁRIOS DE SiC LIGADOS A Si3N4 E SIALON

CARACTERIZAÇÃO QUÍMICA E MINERALÓGICA EM REFRATÁRIOS DE SiC LIGADOS A Si3N4 E SIALON

Autoria

DOI

10.5151/2594-5300-27Aciaria-495-512

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Resumo

Devido à natureza dos produtos refratários de Carbeto de Silício ligados a Si3N4 e Sialon (resistência a altas temperaturas, corrosão e abrasão), as análises químicas destes produtos são um verdadeiro desafio. Os tipos de análises que podem ser realizados são: • Carbono total, carbono livre, total de Nitrogênio e total de Oxigênio por equipamento de Combustão LECO. • Carbeto de Silício pode ser calculado utilizando o carbono total e carbono livre. • Al2O3, TiO2, CaO e Fe2O3 podem ser calculados por Fluorescência de RX. Para se entender as propriedades físicas e químicas dos refratários de SiC ligados a Si3N4 e Sialon, utilizam-se técnicas de análise quantitativa das fases presentes por Difração de RX.

 

Devido à natureza dos produtos refratários de Carbeto de Silício ligados a Si3N4 e Sialon (resistência a altas temperaturas, corrosão e abrasão), as análises químicas destes produtos são um verdadeiro desafio. Os tipos de análises que podem ser realizados são: • Carbono total, carbono livre, total de Nitrogênio e total de Oxigênio por equipamento de Combustão LECO. • Carbeto de Silício pode ser calculado utilizando o carbono total e carbono livre. • Al2O3, TiO2, CaO e Fe2O3 podem ser calculados por Fluorescência de RX. Para se entender as propriedades físicas e químicas dos refratários de SiC ligados a Si3N4 e Sialon, utilizam-se técnicas de análise quantitativa das fases presentes por Difração de RX.

Palavras-chave

nitreto, sialon, carbeto de silício, refratários, difração de RX

nitreto, sialon, carbeto de silício, refratários, difração de RX

Como citar

Teixeira, Avelar Francisco; Lopes, Álvaro Bravo. CARACTERIZAÇÃO QUÍMICA E MINERALÓGICA EM REFRATÁRIOS DE SiC LIGADOS A Si3N4 E SIALON, p. 495-512. In: 27º Seminário de Aciaria, Porto Alegre, Brasil, 1996.
ISSN: 2594-5300, DOI 10.5151/2594-5300-27Aciaria-495-512