The New Inspection Paradigm Based on Third Generation Automatic Surface Inspection Systems

RICHARDS, JAMES; LEVOI, MARTIN; RAUS, MICHAEL

doi:10.5151/2594-5297-LAR00317

Seminário de Laminação, Conformação de Metais e Produtos

ISSN 2594-5297

37º Simpósio de Laminação — Vol. 37, Num. 37 (2000)

Título

The New Inspection Paradigm Based on Third Generation Automatic Surface Inspection Systems

Autoria

RICHARDS, JAMES; LEVOI, MARTIN; RAUS, MICHAEL

10.5151/2594-5297-LAR00317

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Como citar

Richards, James; Levoi, Martin; Raus, Michael. The New Inspection Paradigm Based on Third Generation Automatic Surface Inspection Systems, p. 431-440. In: 37º Simpósio de Laminação, Curitiba - PR, Brasil, 2000.
ISSN: 2594-5297, DOI 10.5151/2594-5297-LAR00317