Título

APLICAÇÃO DO MÉTODO DE RIETVELD NA ANÁLISE DE REVESTIMENTO GALVANNEALED (GA)*

APPLICATION OF THE RIETVELD METHOD IN GALVANNEALED (GA) COATING ANALYSIS

Autoria

Anicio, Deyselane de Fatima; Costa, Fernando de Souza; Arruda, Marcus Vinicius Pereira

Anicio, Deyselane de Fatima

1 Artigos, Baixados 12 Vezes

Costa, Fernando de Souza

Eu sou esse autor

Arruda, Marcus Vinicius Pereira

Eu sou esse autor

DOI

10.5151/2594-5327-34565

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Resumo

A QUALIDADE E O DESEMPENHO DO REVESTIMENTO GA SÃO DETERMINADOS PELA SUA MICROESTRUTURA. AS FASES FE-ZN, QUE COMPÕEM ESSE REVESTIMENTO, POSSUEM ESTRUTURAS CRISTALINAS E PROPRIEDADES FÍSICAS BASTANTE DISTINTAS, FAZENDO COM QUE PEQUENAS ALTERAÇÕES NESSE SISTEMA PRODUZAM EFEITOS SIGNIFICATIVOS, QUE VÃO DESDE A MÁ FORMAÇÃO DO REVESTIMENTO ATÉ O SEU DESPLACAMENTO. DESSA FORMA, A QUANTIFICAÇÃO DAS FASES FE-ZN SE TORNA DE EXTREMA IMPORTÂNCIA. NESTE TRABALHO FOI REALIZADA A QUANTIFICAÇÃO DAS FASES PRESENTES EM UM REVESTIMENTO GA A PARTIR DE DADOS DE DIFRAÇÃO DE RAIOS-X, UTILIZANDO O SOFTWARE TOPAS. OS RESULTADOS MOSTRARAM ROBUSTEZ DO MÉTODO PROPOSTO, OBTENDO VALORES SATISFATÓRIOS DE INDICADORES ESTATÍSTICOS BEM COMO CONCENTRAÇÃO DAS FASES EM CONCORDÂNCIA COM VALORES TEÓRICOS ESPERADOS PARA O REVESTIMENTO. DIANTE DO EXPOSTO, A APLICAÇÃO DO MÉTODO PERMITIRÁ MAIOR PRECISÃO NA ANÁLISE MICROESTRUTURAL DA CAMADA DE GA, CONTRIBUINDO PARA POTENCIALIZAR A QUALIDADE E O DESEMPENHO DO REVESTIMENTO ATRAVÉS DE: OTIMIZAÇÕES DOS CICLOS DE PROCESSAMENTO INDUSTRIAL NAS LINHAS DE GALVANIZAÇÃO POR IMERSÃO A QUENTE; MELHORIAS NA CARACTERIZAÇÃO E QUANTIFICAÇÃO DAS FASES FE-ZN; E AJUSTES DAS SIMULAÇÕES DO PROCESSAMENTO EM ESCALA DE LABORATÓRIO.

THE QUALITY AND PERFORMANCE OF THE GA COATING IS DETERMINED BY ITS MICROSTRUCTURE. THE FE-ZN PHASES THAT MAKE UP THIS COATING HAVE VERY DISTINCT CRYSTALLINE STRUCTURES AND PHYSICAL PROPERTIES. SO, SMALL CHANGES IN THE SYSTEM PRODUCE SIGNIFICANT EFFECTS, RANGING FROM MALFORMATION OF THE COATING TO ITS DETACHMENT. THEREFORE, THE QUANTIFICATION OF FE-ZN PHASES IS EXTREMELY IMPORTANT. IN THIS WORK, THE QUANTIFICATION OF THE PHASES PRESENT IN A GA COATING WAS CARRIED OUT USING X-RAY DIFFRACTION DATA, FROM A TOPAS SOFTWARE. THE RESULTS SHOWED THE ROBUSTNESS OF THE PROPOSED METHOD, OBTAINING SATISFACTORY VALUES OF STATISTICAL INDICATORS OF REFINEMENT, AS WELL AS CONCENTRATION OF THE PHASES IN AGREEMENT WITH THEORETICAL VALUES EXPECTED FOR THE COATING. HENCE, THE APPLICATION OF THIS METHOD WILL ALLOW GREATER PRECISION IN THE MICROSTRUCTURAL ANALYSIS OF THE GA LAYER, CONTRIBUTING TO ENHANCE THE QUALITY AND PERFORMANCE OF THE COATING THROUGH: OPTIMIZATION OF THE INDUSTRIAL PROCESSING CYCLES IN HOT DIP GALVANIZING LINES; IMPROVEMENTS IN THE CHARACTERIZATION AND QUANTIFICATION OF THE FE-ZN PHASES; AND ADJUSTMENTS OF THE PROCESSING SIMULATIONS ON A LABORATORY SCALE.

Palavras-chave

Método de Rietveld; Revestimento galvannealed; Difração de raios-X

Rietveld method; Galvannealed coating; X-ray diffraction