Anais do Congresso Anual da ABM


ISSN 2594-5327

72nd ABM Annual Congress vol. 72, num.72 (2017)


Título

CARACTERIZAÇÃO ELIPSOMÉTRICA DE Ti-Nb E SEUS ÓXIDOS

ELLIPSOMETRIC CHARACTERIZATION OF ALLOY OF TI-NB AND YOUR OXIDES

DOI

10.5151/1516-392X-30422

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Resumo

O emprego das ligas de Ti-Nb ganha cada vez mais destaque, devido a sua elevada biocompatibilidade, relação resistência mecânica/peso, e excepcional resistência à corrosão quando comparada a outros materiais metálicos. Neste trabalho é aplicada a técnica de elipsometria para se caracterizar as propriedades ópticas de um sistema binário Ti-Nb, sendo também possível medir a espessura da camada de óxido. A partir das medidas de parâmetros elipsométricos e a correta modelagem dos dados foi possível obter as curvas de dispersão do índice de refração (n) e do coeficiente de extinção (k) em função do comprimento de onda. Além disso foi obtida a espessura da camada do óxido sobre o substrato da liga.

 

The use of Ti-Nb alloys has been increased due to its high biocompatibility, ration mechanical strength and weight, and exceptional corrosion resistance when compared to other metallic materials. In this work the ellipsometry technique is applied in order to characterize the optical properties of binary system Ti-Nb. It is also possible to measure the thickness of the oxide layer. Thus, through the ellipsometric parameters measure, it is possible to access the dispersion curves of the refractive index (n) and the extinction coefficient (k) as functions of the wavelength. In addition, the thickness the oxide layer on the substrate of the alloy was also obtained.

Palavras-chave

(Liga de Ti-Nb, óxidos de Ti e Nb, Rugosidade, Elipsometria)

(Ti-Nb alloy, Ti-Nb oxides, Roughness, Ellipsometry)

Como citar

Santos, Ramona Rodrigues; Alves, Raísa Siqueira; Terra, Caroline da Silva; Nunes, Nayara Ferreira; Gurgel, Monica Aline Magalhães; Elias, Carlos Nelson; Silva, Ladário da. CARACTERIZAÇÃO ELIPSOMÉTRICA DE Ti-Nb E SEUS ÓXIDOS , p. 1134-1141. In: 72nd ABM Annual Congress, São Paulo, 2017.
ISSN: 2594-5327 , DOI 10.5151/1516-392X-30422