Anais do Congresso Anual da ABM


ISSN 2594-5327

64º Congresso Anual da ABM vol. 64, num.64 (2009)


Título

QUANTIFICAÇÃO DE AUSTENITA RETIDA VIA MICROSCOPIA ÓTICA EMPREGANDO ANALISADOR DE IMAGEM

RETAINED AUSTENITE QUANTIFICATION BY OPTICAL MICROSCOPY USING IMAGE ANALYZER

DOI

10.5151/2594-5327-15055

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Resumo

O trabalho consiste na quantificação de austenita retida em aços temperados, revenidos e carbonitretados, empregando microscopia ótica acoplado a um analisador de imagem. Amostras de aço DIN 19MnCr5 carbonitretadas foram lixadas, polidas, atacadas com Nital 5% e fotografadas em um microscópio ótico acoplado ao analisador de imagem Analysis Pro. A partir dessas fotomicrografias quantificou-se a austenita retida estabelecendo-se, com o auxílio de um padrão conhecido, as condições de identificação das fases austenita retida e martensita (thresholds). Para as mesmas amostras analisadas via microscopia ótica, as quantidades de austenita retida foram medidas empregando difração de raios-X. Os resultados encontrados em ambos os método foram comparados estatisticamente. A similaridade nos valores de austenita retida encontrados em ambos os procedimentos mostrou-se considerável indicando que a metodologia proposta de quantificação de autenita retida, via microscopia ótica acoplada ao analisador de imagem, é bastante promissora.

 

This paper consists in an optical microscopy methodology, associated with an image analyzer system, used to quantify the retained austenite of quenched, tempered and carbonitriding steels. Samples of carbonitriding steel DIN 19MnCr5 were sanded, polished, chemically attacked with Nital 5% and photographed in an optical microscope using an image analyzer system called “Analysis Pro”. From these micrographs the retained austenite was quantified and, assisted by a known standard, the thresholds of the phases (retained austenite and martensite) were established. The percentage of retained austenite of the same samples was also measured by X ray diffraction. The results of both methods were statistically compared and the similarity between them indicates that the proposal methodology of retained austenite quantification by optical microscopy attached to an image analyzer system, is fair promising.

Palavras-chave

Austenita retida; Microscopia ótica; Raios X.

Retained austenite; Optical microscopy; X ray.

Como citar

Lima, Marília; Braga, Rafael Utsch; Almeida, Reinaldo José de; Loureiro, Flávio Guerra. QUANTIFICAÇÃO DE AUSTENITA RETIDA VIA MICROSCOPIA ÓTICA EMPREGANDO ANALISADOR DE IMAGEM , p. 2359-2367. In: 64º Congresso Anual da ABM, Belo Horizonte, 2009.
ISSN: 2594-5327 , DOI 10.5151/2594-5327-15055