ISSN 2594-5327
58th Congresso anual — Vol. 58 , num. 1 (2003)
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Abstract
Neste trabalho é apresentada uma detalhada análise dos modelos matemáticos para perdas magnéticas existentes na literatura. Considerações teóricas apontam diversas falhas e equívocos no modelo de perdas de Bertotti. Além disso, diversos resultados experimentais são conflitantes com as predições do Modelo de Bertotti. Por outro lado, diversos dados experimentais indicam a viabilidade da separação de perdas em duas principais parcelas: uma dinâmica, relacionada às correntes de Foucault e outra sendo decorrência do processo de formação e eliminação de paredes de domínio que leva a perdas irreversíveis de energia. A partir desses pressupostos foi elaborado um modelo para prever o efeito de diversas variáveis nas perdas totais. O modelo foi aplicado, em particular, para estimar o tamanho de grão ótimo para minimizar as perdas totais.
Neste trabalho é apresentada uma detalhada análise dos modelos matemáticos para perdas magnéticas existentes na literatura. Considerações teóricas apontam diversas falhas e equívocos no modelo de perdas de Bertotti. Além disso, diversos resultados experimentais são conflitantes com as predições do Modelo de Bertotti. Por outro lado, diversos dados experimentais indicam a viabilidade da separação de perdas em duas principais parcelas: uma dinâmica, relacionada às correntes de Foucault e outra sendo decorrência do processo de formação e eliminação de paredes de domínio que leva a perdas irreversíveis de energia. A partir desses pressupostos foi elaborado um modelo para prever o efeito de diversas variáveis nas perdas totais. O modelo foi aplicado, em particular, para estimar o tamanho de grão ótimo para minimizar as perdas totais.
Keywords
aços elétricos, perdas magnéticas, recristalização
aços elétricos, perdas magnéticas, recristalização
How to cite
Campos, Marcos Flávio de; Falleiros, Ivan Gilberto Sandoval; Landgraf, Fernando José Gomes.
Análise crítica do modelo das perdas em excesso,
p. 1248-1257.
In: 58th Congresso anual,
Rio de Janeiro, Brasil,
2003.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-2678