Title

ANÁLISE ESTRUTURAL DO CARBETO DE TANTALO NANOMÉTRICO POR DRX E REFINAMENTO RIETIVELD

STRUCTURAL ANALYSIS OF TANTALUM CARBIDE NANOMETER BY XRD AND REFINING RIETIVELD

Authorship

Lima, Maria José Santos; Souto, Maria Veronilda Macedo; Silva, Ariadne Souza e; Silva, Fernando Erick Santos da; Souza, Carlson Pereira de; Gomes, Uilame Umbelino

Lima, Maria José Santos

I am this author

Souto, Maria Veronilda Macedo

I am this author

Silva, Ariadne Souza e

I am this author

Silva, Fernando Erick Santos da

I am this author

Souza, Carlson Pereira de

I am this author

Gomes, Uilame Umbelino

I am this author

DOI

10.5151/1516-392X-26263

Downloads

Abstract

Neste trabalho a estrutura cristalina do carbeto de tântalo (TaC), que é um material extremamente duro, com elevado ponto de fusão e elevada estabilidade química, foi analisada por difração de raios- X e pelo método Rietiveld.Para isto, o carbeto de tântalo foi obtido a partir do precursor tris(oxalato)oxitantalato de amônio hidratado, através de reação gás-sólido e sólido-sólido a baixa temperatura (1000°C) e curto tempo de reação, e foi caracterizado através de Difração de Raios-X (DRX), Refinamento Rietveld e Micróscopia Eletronica de Varredura (MEV). Através das analises de DRX e do refinamento Reitiveld para o TaC com S= 1,1584, observou-se a formação do carbeto de tântalo puro com estrutura cúbica e tamanho médio de cristalitos na ordem de 12,9 nanômetros.

In this work, the crystal structure of tantalum carbide (TaC), which is an extremely hard material with a high melting point and high chemical stability was analyzed by Xray diffraction and the Rietiveld method. For this, tantalum carbide was obtained from the precursor tris(oxalato)oxitantalato hydrated ammonium through gas-solid and solid-solid reaction at low temperature (1000°C) and shorter reaction time, and was characterized by X-ray diffraction (XRD), Rietveld refinement and electron microscopy (SEM). Through the analysis of XRD and Reitiveld refinement to the TaC with S = 1.1584, was observed the formation of pure tantalum carbide with cubic structure and average size of crystallites in the order of 12.9 nanometers.

Keywords

Carbeto de tântalo manométrico, Difração de raios-X, Método Rietiveld

Tantalum carbide nanometer, X-ray diffraction, Method Rietiveld