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Proceedings of the National Meeting of Metallurgical, Materials and Mining


ISSN 2594-4711

24th ENEMET — Vol. 24 , num. 24 (2026)


Title

Análise microestrutural EBSD/DRX de Cu eletrolítico processado por ECAP: Metodologia para quantificação de discordâncias

EBSD/XRD microstructural analysis of ecap-processed electrolytic copper: Methodology for dislocation density quantification

Authorship

DOI

10.5151/2594-4711-44123

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Abstract

Este trabalho descreve um framework computacional alinhado aos princípios FAIR (Findable, Accessible, Interoperable, Reusable) para análise quantitativa de dados microestruturais do Cu eletrolítico processado por deformação plástica severa via ECAP (Equal Channel Angular Pressing). Implementado na biblioteca MTEX (MATLAB), o framework abrange a importação e a filtragem de dados EBSD, a reconstrução de grãos, a análise de textura cristalográfica e a quantificação da densidade de discordâncias por dois métodos EBSD complementares: (i) KAM (Kernel Average Misorientation) e (ii) norma de Frobenius do tensor de Nye. Os dois métodos convergiram para ρ_GND ~ 2×10¹⁴ m⁻² (razão 1,34×), com σ_log₁₀ = 0,23 em ambos, com distribuição log-normal e heterogeneidade microestrutural real. Os scripts são documentados e disponibilizados publicamente em conformidade com os princípios FAIR.

 

This paper describes a FAIR-aligned computational framework for quantitative microstructural analysis of electrolytic copper processed by severe plastic deformation via ECAP. Implemented in the MTEX library (MATLAB), the framework covers EBSD data import, grain reconstruction, texture analysis, and dislocation density quantification through two complementary EBSD methods: KAM (Kernel Average Misorientation) and Nye tensor Frobenius norm. Both methods converged to ρ_GND ~ 2×10¹⁴ m⁻² (ratio 1.34×), with σ_log₁₀ = 0.23, with log-normal distribution and real microstructural heterogeneity. All scripts are documented and publicly available.

Keywords

Cu eletrolítico, ECAP, MTEX, Densidade de discordâncias

electrolytic Cu, ECAP, MTEX, Dislocation density

How to cite

Silva, Marcell Parra Araújo Bernardo; Brandão, Luiz Paulo; Sousa, Talita Gama de. Análise microestrutural EBSD/DRX de Cu eletrolítico processado por ECAP: Metodologia para quantificação de discordâncias, p. 1382-1388. In: 24th ENEMET, São Paulo, SP - Brasil, 2026.
ISSN: 2594-4711, DOI 10.5151/2594-4711-44123