ISSN 2594-5327
52th Congresso anual — Vol. 53 , num. 1 (1998)
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Abstract
A textura dos aços elétricos tem grande influência nos valores e na anisotropia de suas propriedades magnéticas. Sabe-se que a textura após laminação a frio influencia a textura após a recristalização final dos aços elétricos. Assim, a compreensão das características da microestrutura deformada é muito importante para o controle da textura. Este trabalho procura analisar a textura cristalográfica e a microestrutura de aços de carbono abaixo de 0,02% e teores de Silício e Alumínio somando 0,5%, após laminação a frio com graus de deformação real de 0 a 0,693, utilizando microscopia óptica, microscopia eletrônica de varredura e microscopia de força atômica. A principal evidência microestrutural são linhas paralelas que ocorrem no interior dos grãos. Discute-se a nomenclatura adequada dessas linhas e sua correlação com as microbandas observáveis por microscópio eletrônico de transmissão em materiais CFC.
A textura dos aços elétricos tem grande influência nos valores e na anisotropia de suas propriedades magnéticas. Sabe-se que a textura após laminação a frio influencia a textura após a recristalização final dos aços elétricos. Assim, a compreensão das características da microestrutura deformada é muito importante para o controle da textura. Este trabalho procura analisar a textura cristalográfica e a microestrutura de aços de carbono abaixo de 0,02% e teores de Silício e Alumínio somando 0,5%, após laminação a frio com graus de deformação real de 0 a 0,693, utilizando microscopia óptica, microscopia eletrônica de varredura e microscopia de força atômica. A principal evidência microestrutural são linhas paralelas que ocorrem no interior dos grãos. Discute-se a nomenclatura adequada dessas linhas e sua correlação com as microbandas observáveis por microscópio eletrônico de transmissão em materiais CFC.
Keywords
aços elétricos, laminação, microbandas
aços elétricos, laminação, microbandas
How to cite
Takanohashi, Rubens; Landgraf, Fernando José Gomes; Gonçalves, Marcelo; Emura, Marília; Alves, Gustavo Spera; Campos, Marcos Flávio De; Pássaro, Ângela Maria Pizzo; Lima, Nelson B. de; Zwirman, Nilza Sabioni; Wolgien, Verner.
Avaliação da Microestrutura Após Laminação a Frio em Aços Elétricos,
p. 1465-1478.
In: 52th Congresso anual,
Belo Horizonte, Brasil,
1998.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-C00444
