ISSN 2594-5327
50th Congresso anual — Vol. 50 , num. 1 (1995)
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Abstract
É proposto um método não destrutivo para medida da espessura de filmes depositados. Ele é baseado no fato de que a intensidade de um feixe de raios-x, ao incidir sobre uma superfície, decai exponencialmente com a profundidade de penetração. Por outro lado, se diferentes camadas monofásicas são atravessadas por este feixe, as intensidades difratadas por cada camada terão uma diminuição com relação às suas intensidades difratadas no estado puro. Utilizando este método, uma amostra de aço AISI 409 foi nitretada ionicamente e as espessuras da camada de compostos medida. A zona de compostos possui duas fases distintas: uma mais superficial, Fe₃N - ε, e outra mais interna Fe₄N - γ’. Os resultados obtidos são comparados com aqueles observados por microscopia ótica.
É proposto um método não destrutivo para medida da espessura de filmes depositados. Ele é baseado no fato de que a intensidade de um feixe de raios-x, ao incidir sobre uma superfície, decai exponencialmente com a profundidade de penetração. Por outro lado, se diferentes camadas monofásicas são atravessadas por este feixe, as intensidades difratadas por cada camada terão uma diminuição com relação às suas intensidades difratadas no estado puro. Utilizando este método, uma amostra de aço AISI 409 foi nitretada ionicamente e as espessuras da camada de compostos medida. A zona de compostos possui duas fases distintas: uma mais superficial, Fe₃N - ε, e outra mais interna Fe₄N - γ’. Os resultados obtidos são comparados com aqueles observados por microscopia ótica.
Keywords
Nitretação iônica, aços nitretados
Nitretação iônica, aços nitretados
How to cite
Junior, Clodomiro Alves; Machado, Rogério; Rodrigues, José de Anchieta.
CARACTERIZAÇÃO DE CAMADAS NITRETADAS DE AÇOS AISI - 409, UTILIZANDO A TÉCNICA DE DIFRATOMETRIA DE RAIOS-X,
p. 2747-2754.
In: 50th Congresso anual,
São Pedro-SP, Brasil,
1995.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-50v5-271-278
