Title

Caracterização de óxido de grafeno por Microscopia de Força Atômica e espectroscopia UV-Vis

Characterization of graphene oxide by Atomic Force Microscopy and UV-Vis Spectroscopy

Authorship

SILVA, FÁBIO LACERDA DA; MATIAS, NATHALIA BATISTA LOPES; VITORAZI, LETÍCIA; BITTENCOURT, JOÃO VICTOR; FIALHO, BONIFÁCIO DE OLIVEIRA; COSTA, ULISSES OLIVEIRA

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BITTENCOURT, JOÃO VICTOR

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FIALHO, BONIFÁCIO DE OLIVEIRA

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COSTA, ULISSES OLIVEIRA

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DOI

10.5151/2594-5327-43355

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Abstract

O presente trabalho teve como objetivo caracterizar óxido de grafeno (GO) sintetizado pelo método de Hummers modificado por meio de Microscopia de Força Atômica (AFM) e Espectroscopia na Região do Ultravioleta-Visível (UV-Vis). As análises de AFM permitiram avaliar a morfologia superficial do material, evidenciando a presença de nanofolhas distribuídas em diferentes dimensões e tonalidades. A análise topográfica revelou altura média de 5,07 ± 2,81 nm, indicando predominância de estruturas multicamadas e possíveis efeitos relacionados à funcionalização superficial do GO. Para as análises de UV-Vis, foram preparadas dispersões de GO em diferentes concentrações em água deionizada, possibilitando a obtenção de uma curva de calibração por regressão linear. Nos espectros UV-Vis foi observado aumento da absorbância na região de aproximadamente 420 nm, característica de materiais à base de GO. A concentração da dispersão foi estimada em 2,5 mg/mL. Os resultados obtidos confirmaram características estruturais e ópticas compatíveis com aquelas reportadas na literatura para GO sintetizado pelo método de Hummers modificado.

The present study aimed to characterize graphene oxide (GO) synthesized by the modified Hummers method using Atomic Force Microscopy (AFM) and Ultraviolet–Visible Spectroscopy (UV-Vis). AFM analyses enabled the evaluation of the surface morphology of the material, revealing the presence of graphene nanosheets distributed in different sizes and tonalities. Topographic analysis showed an average height of 5.07 ± 2.81 nm, indicating the predominance of multilayer structures and possible effects related to the surface functionalization of GO. For the UV-Vis analyses, GO dispersions with different concentrations were prepared in deionized water, enabling the construction of a calibration curve by linear regression. The UV-Vis spectra showed an increase in absorbance in the region of approximately 420 nm, a characteristic commonly associated with GO-based materials. The dispersion concentration was estimated at 2.5 mg/mL. The obtained results confirmed structural and optical characteristics consistent with those reported in the literature for GO synthesized by the modified Hummers method.

Keywords

Óxido de grafeno, AFM, UV-Vis, Nanomateriais

Graphene oxide, AFM, UV-Vis, Nanomaterials