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Proceedings of ABM Annual Congress


ISSN 2594-5327

42th Congresso anual Vol. 42, Num. 1 (1987)


Title

Caracterização Mineralógica Qualitativa de Sínter por Difração de Raios-X

Authorship

DOI

10.5151/2594-5327-1987-42-v2-05-20

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Abstract

Este trabalho tem como objetivo a caracterização mineralógica qualitativa por difração de raios-X de sinteres e das matérias-primas empregadas na sua fabricação. Para tanto, foram preparadas amostras de sinteres com teor fixo de moinha de coque e variados os teores de areia, calcário, dunito e dolomito, com a finalidade de se obter os compostos que são normalmente neles encontrados em função das variações de basicidade. Os procedimentos experimentais foram realizados nos laboratórios do Centro de Pesquisas da Companhia Siderúrgica Nacional, no Laboratório de Raios-X do Centro de Tecnologia Mineral e na Divisão de Tecnologias Indiferenciadas do Instituto Nacional de Tecnologia fruto do Convênio de Cooperação Técnica destas Instituições.

 

Keywords

sinterização, difração de raios-X, caracterização mineralógica

How to cite

Greca, Maria Conceição; Pietroluongo, Luiz Roberto do Valle; Baliza, Sebastião Vitor; Pereira, Eduardo Alberto da Costa. Caracterização Mineralógica Qualitativa de Sínter por Difração de Raios-X, p. 721-736. In: 42th Congresso anual, Salvador, Brasil, 1987.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-1987-42-v2-05-20