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Proceedings of the Seminar on Steelmaking, Casting and Non-Ferrous Metallurgy


ISSN 2594-5300

27º Seminário de Aciaria Vol. 01 , num. 27 (1996)


Title

CARACTERIZAÇÃO QUÍMICA E MINERALÓGICA EM REFRATÁRIOS DE SiC LIGADOS A Si3N4 E SIALON

CARACTERIZAÇÃO QUÍMICA E MINERALÓGICA EM REFRATÁRIOS DE SiC LIGADOS A Si3N4 E SIALON

Authorship

DOI

10.5151/2594-5300-27Aciaria-495-512

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Abstract

Devido à natureza dos produtos refratários de Carbeto de Silício ligados a Si3N4 e Sialon (resistência a altas temperaturas, corrosão e abrasão), as análises químicas destes produtos são um verdadeiro desafio. Os tipos de análises que podem ser realizados são: • Carbono total, carbono livre, total de Nitrogênio e total de Oxigênio por equipamento de Combustão LECO. • Carbeto de Silício pode ser calculado utilizando o carbono total e carbono livre. • Al2O3, TiO2, CaO e Fe2O3 podem ser calculados por Fluorescência de RX. Para se entender as propriedades físicas e químicas dos refratários de SiC ligados a Si3N4 e Sialon, utilizam-se técnicas de análise quantitativa das fases presentes por Difração de RX.

 

Devido à natureza dos produtos refratários de Carbeto de Silício ligados a Si3N4 e Sialon (resistência a altas temperaturas, corrosão e abrasão), as análises químicas destes produtos são um verdadeiro desafio. Os tipos de análises que podem ser realizados são: • Carbono total, carbono livre, total de Nitrogênio e total de Oxigênio por equipamento de Combustão LECO. • Carbeto de Silício pode ser calculado utilizando o carbono total e carbono livre. • Al2O3, TiO2, CaO e Fe2O3 podem ser calculados por Fluorescência de RX. Para se entender as propriedades físicas e químicas dos refratários de SiC ligados a Si3N4 e Sialon, utilizam-se técnicas de análise quantitativa das fases presentes por Difração de RX.

Keywords

nitreto, sialon, carbeto de silício, refratários, difração de RX

nitreto, sialon, carbeto de silício, refratários, difração de RX

How to cite

Teixeira, Avelar Francisco; Lopes, Álvaro Bravo. CARACTERIZAÇÃO QUÍMICA E MINERALÓGICA EM REFRATÁRIOS DE SiC LIGADOS A Si3N4 E SIALON, p. 495-512. In: 27º Seminário de Aciaria, Porto Alegre, Brasil, 1996.
ISSN: 2594-5300, DOI 10.5151/2594-5300-27Aciaria-495-512