Title

CARACTERIZACIÓN DE RECUBRIMIENTOS DE TiN SOBRE ACEROS Y SU DEPENDENCIA CON LA TENSIÓN DE BIAS

CARACTERIZAÇÃO DE REVESTIMENTO da TiN NO AÇOS E SUA DEPENDÊNCIA COM A TENSÃO BIAS

Authorship

PERILLO, PATRICIA; MINGOLO, NORMA

PERILLO, PATRICIA

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MINGOLO, NORMA

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DOI

10.5151/2594-5327-2005-16314-0376

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Abstract

Se realizaron recubrimientos de nitruro de titanio (TiN) depositados por el método de plasma en arco catódico CAPD (cathodic arc plasma deposition) sobre substratos de acero AISI 410 y AISI M2. Los parámetros variables del proceso fueron, en este caso, el potencial bias. Se analizaron dureza, espesor, adherencia, tensiones residuales y textura cristalográfica. La caracterización de las propiedades de los recubrimientos fueron analizadas en base a diferentes determinaciones. Las tensiones residuales y textura cristalográfica fueron obtenidas por el método de difracción de Rayos X. Se utilizó microscopía electrónica de barrido para observar la estructura del TiN. Mediante la técnica de espectroscopia XPS, se determinó la composición elemental de los recubrimientos y las energías de enlace de los elementos existentes. La estructura morfológica, la topografía y la composición química cualitativa de ciertos elementos se analizó por la técnica de EDS con un analizador EDAX. En los substratos de acero AISI 410 también fue estudiado su comportamiento frente a la corrosión. Con la variación del voltaje de bias se observaron cambios en la microestructura y las propiedades analizadas en los recubrimientos de TiN

Os revestimentos de nitreto de titanio (TiN) foram depositados pelo método do plasma no arco catodico CAPD (cathodic arc plasma deposition) em substratos de aço AISI 410 e AISI M2. Foram estudado, neste caso, o efeito da variação de tensão bias. A dureza, a espessura, aderência , tensôes residuais e textura cristalográfica foram analisados. A caracterizaçao das propriedades dos revestimentos foi analisada na base de determinações diferentes. Os tensões residuais e textura cristalografica foram obtidos por técnicas de difração de raios X. A estrutura do TiN foi analisada por meio de microscopia eletrônica de varredura. Por meio da técnica do espectroscopia XPS, se determinou a composição elementar dos revestimentos e as energias da enlace dos elementos existentes. A estrutura morfológica e a composição química cualitativa de determinados elementos foram analisados pela técnica de EDS com um analisador EDAX. Nos substratos de ãço AISI 410 também foi estudado seu comportamento em ensaios de corrosão. Com a variaçao da tensão bias foram observados mudanças na microestructura e nas propiedades analisadas nos revestimentos de TiN.

Keywords

Bias; TiN; AISI 410; AISI M2

Bias; TiN; AISI 410; AISI M2.