Title

ESTUDO DA LIGA DE CU-ZN E SEUS ÓXIDOS UTILIZANDO A TÉCNICA DE ELIPSOMETRIA ESPECTROSCÓPICA

STUDY FOR CHARACTERIZATION OF THE CU-ZN ALLOY AND ITS OXIDES USING THE SPECTROSCOPIC ELIPSOMETRY TECHNIQUE

Authorship

Junior, Cláudio Faria Lopes; Machado, Glauco Silva de Assis; Mendes, Patrícia Sousa Nilo; Mendes, Priscila Sousa Nilo; Huguenin, José Augusto Oliveira; Ferreira, Elivelton Alves; Silva, Ladário da

Junior, Cláudio Faria Lopes

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Machado, Glauco Silva de Assis

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Mendes, Patrícia Sousa Nilo

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Mendes, Priscila Sousa Nilo

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Huguenin, José Augusto Oliveira

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Ferreira, Elivelton Alves

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Silva, Ladário da

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DOI

10.5151/2594-5327-33507

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Abstract

Este trabalho teve como objetivo caracterizar a superfície da liga de Cu-Zn e seus óxidos sob o efeito da exposição das amostras à atmosfera gasosa num ambiente controlado com 40% de umidade e a uma temperatura de aproximadamente 23ºC.Utilizou-se a técnica de Microscopia Eletrônica de Varredura com Espectroscopia de Dispersão de Energia para acessar a composição dos elementos da liga. Posteriormente, a técnica de Microscopia Confocal para analisar a topografia das amostras e medir a rugosidade superficial do material, com base na norma DIN 4768 / ISO 4288. Além disso, foi utilizado a Elipsometria Espectroscópica, uma técnica de análise óptica capaz de medir propriedades ópticas, sendo o índice de refração e coeficiente de extinção em função do comprimento de onda na faixa 250 nm a 1000 nm, e espessuras dos filmes finos de óxidos formados sobre o material.

This work aimed to characterize the surface of the Cu-Zn alloy and its oxides under the effect of the exposing samples to the gaseous atmosphere in a controlled environment with 40% umidity and at a temperature of approximately 23ºC. The Scanning Electron Microscopy technique with Energy Dispersion Spectroscopy was used to access the composition of the alloy elements. Afterwards, the Confocal Microscopy technique was used to analyze the topography of the samples and to measure the surface roughness of the material, based on DIN 4768 / ISO 4288. In addition, Spectroscopic Ellipsometry, a technique of optical analysis capable of measuring optical properties, the refractive index and extinction coefficient being a function of the wavelength in the range 250 nm to 1000 nm, and thin film thicknesses of oxides formed on the material.

Keywords

Caracterização; Elipsometria; Liga de Cu-Zn; Óxidos; Filmes Finos.

Characterization, Ellipsometry, Cu-Zn alloy; oxides; Thin films.