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Proceedings of ABM Annual Congress


ISSN 2594-5327

58th Congresso anual Vol. 58 , num. 1 (2003)


Title

Estudo Teórico de Interação entre Defeitos Pontuais em Ligas Ordenadas do Sistema Fe-Al

Estudo Teórico de Interação entre Defeitos Pontuais em Ligas Ordenadas do Sistema Fe-Al

Authorship

DOI

10.5151/2594-5327-2921

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Abstract

Neste trabalho utilizamos o método do átomo imerso (Embedded Atom Method - EAM) para realizar um estudo sistemático da interação de defeitos pontuais (lacunas e defeitos de antissítio) em ligas Fe-Al. O EAM é um método de simulação atomística bastante utilizado para o cálculo de energias e configurações espaciais relaxadas e, por ser parametrizado, permite o estudo de defeitos complexos. Neste caso, os defeitos considerados foram: pares de lacunas e pares lacuna-antissítio em Fe e nos intermetálicos FeAl e Fe₃Al. Com isso, determinamos as configurações de mais baixa energia para cada conjunto de defeitos e investigamos a dependência das interações entre os defeitos com relação à distância entre eles.

 

Neste trabalho utilizamos o método do átomo imerso (Embedded Atom Method - EAM) para realizar um estudo sistemático da interação de defeitos pontuais (lacunas e defeitos de antissítio) em ligas Fe-Al. O EAM é um método de simulação atomística bastante utilizado para o cálculo de energias e configurações espaciais relaxadas e, por ser parametrizado, permite o estudo de defeitos complexos. Neste caso, os defeitos considerados foram: pares de lacunas e pares lacuna-antissítio em Fe e nos intermetálicos FeAl e Fe₃Al. Com isso, determinamos as configurações de mais baixa energia para cada conjunto de defeitos e investigamos a dependência das interações entre os defeitos com relação à distância entre eles.

Keywords

Defeitos pontuais, simulação atomística, ligas Fe-Al

Defeitos pontuais, simulação atomística, ligas Fe-Al

How to cite

Nogueira, Renata Nascimento; Schön, Cláudio Geraldo. Estudo Teórico de Interação entre Defeitos Pontuais em Ligas Ordenadas do Sistema Fe-Al, p. 2547-2552. In: 58th Congresso anual, Rio de Janeiro, Brasil, 2003.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-2921