ISSN 2594-5327
50th Congresso anual — Vol. 50 , num. 1 (1995)
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Abstract
O objetivo deste trabalho é apresentar a evolução da microestrutura de filmes finos de alumínio de alta pureza após tratamentos térmicos utilizando microscopia eletrônica de transmissão. Na tecnologia do processo de produção de filmes finos é muito importante evitar-se formação de textura preferencial dos grãos formados ao utilizar-se substratos de deposição à temperatura ambiente e sob vácuo de 10⁻⁶ torr, obtendo-se elevado refino de grão (50 nm). Os estudos de tratamentos térmicos de filmes finos onde se pode acompanhar a evolução da microestrutura facilitam o entendimento de alterações que possam ocorrer nas camadas finas de filmes depositados sobre materiais com função protetora e que, por processos de aquecimento, levam a uma quebra de propriedades importantes como, por exemplo, diminuição da resistência mecânica e a corrosão.
O objetivo deste trabalho é apresentar a evolução da microestrutura de filmes finos de alumínio de alta pureza após tratamentos térmicos utilizando microscopia eletrônica de transmissão. Na tecnologia do processo de produção de filmes finos é muito importante evitar-se formação de textura preferencial dos grãos formados ao utilizar-se substratos de deposição à temperatura ambiente e sob vácuo de 10⁻⁶ torr, obtendo-se elevado refino de grão (50 nm). Os estudos de tratamentos térmicos de filmes finos onde se pode acompanhar a evolução da microestrutura facilitam o entendimento de alterações que possam ocorrer nas camadas finas de filmes depositados sobre materiais com função protetora e que, por processos de aquecimento, levam a uma quebra de propriedades importantes como, por exemplo, diminuição da resistência mecânica e a corrosão.
Keywords
Filme fino, Tratamento térmico, Microscopia eletrônica
Filme fino, Tratamento térmico, Microscopia eletrônica
How to cite
Monteiro, Waldemar Alfredo; Ferreira, Nildemar Aparecido Messias.
EVOLUÇÃO MICROESTRUTURAL DE FILMES FINOS DE ALUMÍNIO TRATADOS TERMICAMENTE,
p. 2705-2712.
In: 50th Congresso anual,
São Pedro-SP, Brasil,
1995.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-50v5-229-236