ISSN 2594-5327
52th Congresso anual — Vol. 53 , num. 1 (1998)
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Abstract
A ocorrência de defeitos de Aciaria, geralmente associada à qualidade interna e/ou superficial dos aços, quando não detectados antes da expedição final, geram consequências indesejáveis e muitas vezes imensuráveis à relação cliente/fornecedor, podendo desgastar a imagem da Empresa. A necessidade de identificação das causas fundamentais que provocam os defeitos são essenciais na proposição de ações corretivas para a eliminação dos mesmos. Daí a necessidade de aprofundamento de estudo metalúrgico, incluindo a caracterização metalográfica e química de amostras afetadas. Neste trabalho são apresentados estudos de alguns casos onde foram aplicadas as técnicas Microscopia Ótica e Microscopia Eletrônica de Varredura (microanálise química) para a caracterização dos defeitos e identificação/determinação de suas origens através de informações do processo de produção. Estes estudos culminaram em ações corretivas e/ou disposições para a solução dos problemas de qualidade. Conclui-se que a caracterização do defeito via Microscopia Ótica e Microscopia Eletrônica de Varredura foram imprescindíveis na descoberta das causas fundamentais e, consequentemente, na proposição de ações para melhoria da qualidade.
A ocorrência de defeitos de Aciaria, geralmente associada à qualidade interna e/ou superficial dos aços, quando não detectados antes da expedição final, geram consequências indesejáveis e muitas vezes imensuráveis à relação cliente/fornecedor, podendo desgastar a imagem da Empresa. A necessidade de identificação das causas fundamentais que provocam os defeitos são essenciais na proposição de ações corretivas para a eliminação dos mesmos. Daí a necessidade de aprofundamento de estudo metalúrgico, incluindo a caracterização metalográfica e química de amostras afetadas. Neste trabalho são apresentados estudos de alguns casos onde foram aplicadas as técnicas Microscopia Ótica e Microscopia Eletrônica de Varredura (microanálise química) para a caracterização dos defeitos e identificação/determinação de suas origens através de informações do processo de produção. Estes estudos culminaram em ações corretivas e/ou disposições para a solução dos problemas de qualidade. Conclui-se que a caracterização do defeito via Microscopia Ótica e Microscopia Eletrônica de Varredura foram imprescindíveis na descoberta das causas fundamentais e, consequentemente, na proposição de ações para melhoria da qualidade.
Keywords
Defeitos, Aciaria, Microscopia Ótica, Microscopia Eletrônica de Varredura, Microanálise Química, Ações Corretivas
Defeitos, Aciaria, Microscopia Ótica, Microscopia Eletrônica de Varredura, Microanálise Química, Ações Corretivas
How to cite
Júnior, Norval Rodrigues de Oliveira; Barreto, Antônio Francisco Martins; Junqueira, Carlos Eduardo; Neves, José Cordeiro; Foschi, Igino; Amorim, Dircemi.
EXPERIÊNCIA DA ACESITA NA CARACTERIZAÇÃO DE DEFEITOS DE ACIARIA - USO DAS TÉCNICAS MICROSCOPIA ÓTICA E MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA,
p. 309-325.
In: 52th Congresso anual,
Belo Horizonte, Brasil,
1998.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-C00349
