ISSN 2594-5327
50th Congresso anual — Vol. 50 , num. 1 (1995)
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Abstract
Este trabalho analisa a formação de ligas metálicas e intermetálicas dos sistemas Cu-Sn, Ni-Sn e Cu-Ag. Essas ligas se formam frequentemente em componentes eletrônicos na interface revestimento/componente – por exemplo, durante a passagem de corrente elétrica em elementos de contato revestidos com estanho – e solda/componente – por exemplo, durante a soldagem dos mesmos aos furos metalizados das placas de circuito impresso. Porém, as características físicas, mecânicas e elétricas desses componentes são afetadas – geralmente negativamente – pela formação de ligas metálicas e intermetálicas na interface componente/revestimento e componente/solda. Apresentam-se os princípios termodinâmicos e cinéticos da formação dessas ligas. Quanto à cinética, a relação entre espessura das ligas e tempo ora segue uma lei linear, ora parabólica. São descritos também os procedimentos metalográficos para a visualização dessas ligas. Indicam-se ainda técnicas complementares para caracterizar a composição química e a estabilidade térmica das ligas. São incluídos no decorrer do texto exemplos dos efeitos maléficos da formação de ligas metálicas e intermetálicas na interface componente/revestimento no desempenho de componentes eletrônicos.
Este trabalho analisa a formação de ligas metálicas e intermetálicas dos sistemas Cu-Sn, Ni-Sn e Cu-Ag. Essas ligas se formam frequentemente em componentes eletrônicos na interface revestimento/componente – por exemplo, durante a passagem de corrente elétrica em elementos de contato revestidos com estanho – e solda/componente – por exemplo, durante a soldagem dos mesmos aos furos metalizados das placas de circuito impresso. Porém, as características físicas, mecânicas e elétricas desses componentes são afetadas – geralmente negativamente – pela formação de ligas metálicas e intermetálicas na interface componente/revestimento e componente/solda. Apresentam-se os princípios termodinâmicos e cinéticos da formação dessas ligas. Quanto à cinética, a relação entre espessura das ligas e tempo ora segue uma lei linear, ora parabólica. São descritos também os procedimentos metalográficos para a visualização dessas ligas. Indicam-se ainda técnicas complementares para caracterizar a composição química e a estabilidade térmica das ligas. São incluídos no decorrer do texto exemplos dos efeitos maléficos da formação de ligas metálicas e intermetálicas na interface componente/revestimento no desempenho de componentes eletrônicos.
Keywords
interface, ligas metálicas, ligas intermetálicas, componentes eletrônicos, revestimentos
interface, ligas metálicas, ligas intermetálicas, componentes eletrônicos, revestimentos
How to cite
Aragão, Bernardo José Guilherme de.
FORMAÇÃO DE LIGAS METÁLICAS E INTERMETÁLICAS EM REVESTIMENTOS E SOLDAS USADAS EM COMPONENTES ELETRÔNICOS,
p. 2303-2320.
In: 50th Congresso anual,
São Pedro-SP, Brasil,
1995.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-50v4-565-582