ISSN 2594-5327
72nd ABM Annual Congress — Vol. 72, Num. 72 (2017)
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Abstract
O presente trabalho tem por objetivo estudar o filme fino de óxido de estanho através da técnica de elipsometria. Usando esta técnica é possível obter as propriedades ópticas e dielétricas do estanho metálico, assim como acessar a espessura do filme fino de óxido de estanho formado, nosso maior interesse. O estanho é considerado como um dos melhores metais para ser fundido, pelo fato de sua temperatura de fusão ser cerca de 232°C. Devido a este fato, o estanho é bastante utilizado na soldagem e em revestimentos de chapas de aço por imersão a quente. Foram realizadas medidas dos parâmetros elipsométricos e a modelagem para a obtenção da espessura do filme de óxido formado sobre o substrato do estanho metálico.
The present work aims to studythe thin film of tin oxide through the technique of ellipsometry. Using this technique, it is possible to obtain the optical and dielectric properties of the metallic tin as well as to access the thickness of the tin oxide film formed, our greatest interest. Tin is considered to be one of the best metals to be melted, because its melting temperature is about 232 °C. Due to this fact, tin is widely used in welding and hot dip coated steel sheet. Measurements of ellipsometric parameters and modeling were performed to obtain the thickness of the oxide film formed on the metallic tin substrate.
Keywords
Estanho, Óxido de Estanho, Elipsometria
Tin, Tin Oxides, Ellipsometry
How to cite
Camila Confort; Nunes, Nayara Ferreira; Teixeira, Rodolfo da Silva; Terra, Caroline da Silva; Ferreira, Elivelton Alves; Silva, Daniel de Carvalho; Lima, Ingrid Russoni de; LAdário da Silva; Gurgel, Monica Aline Magalhães.
MEDIDA DE ESPESSURA DE FILME FINO DE ÓXIDO DE ESTANHO POR ELIPSOMETRIA,
p. 1118-1125.
In: 72nd ABM Annual Congress,
São Paulo,
2017.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/1516-392X-30419
