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Anais do Congresso Anual da ABM


ISSN 2594-5327

62º Congresso anual da ABM Vol. 62, Num. 62 (2007)


Título

USO DE FUNÇÕES ANALÍTICAS NO AJUSTE DE PICOS DE DIFRAÇÃO DE RAIO-X PARA MEDIÇÃO DE TENSÕES RESIDUA

USE OF ANALYTIC FUNCTIONS IN THE X-RAY DIFRACTION PEAK ADJUSTMENT FOR RESIDUAL STRESS MEASUREMENT

Autoria

DOI

10.5151/2594-5327-2005-15108-0305

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Resumo

O presente trabalho tem por objetivo avaliar o uso de funções analíticas no ajuste do perfil do pico de difração e localização correta do pico, visando melhores resultados no cálculo das tensões residuais por difração de raio-X. A metodologia consistiu da soldagem de tubulações com diâmetro de 4”, usando o processo TIG manual. As medições de tensões residuais foram realizadas através de um minidifratômetro de raio-X para medição em condições de campo, utilizando um tubo de cromo (

 

In this work the use of analytic functions for X-ray diffraction peak adjustment in residual stress measurement were evaluated. The analysis was carried out on outer surface of a low carbon steel pipe welded by GTAW process. X-ray minidiffractometer for field analysis was used to welding residual stress measurements. A Cr-K

Palavras-chave

Tensões residuais; Difração de raio-X; Funções analíticas

Residual stress; X-ray diffraction; Analytic functions

Como citar

Silva, Francisco Diego Araruna da; Silva, Cleiton Carvalho; Farias, Jesualdo Pereira; Júnior, Francisco Edval Sampaio de Freitas. USO DE FUNÇÕES ANALÍTICAS NO AJUSTE DE PICOS DE DIFRAÇÃO DE RAIO-X PARA MEDIÇÃO DE TENSÕES RESIDUA, p. 2821-2830. In: 62º Congresso anual da ABM, Vitória, 2007.
ISSN: 2594-5327, DOI 10.5151/2594-5327-2005-15108-0305