Título

FIO DE AÇO SILÍCIO COM BAIXAS PERDAS MAGNÉTICAS

SILICON STEEL WIRE WITH LOW POWER LOSS

Autoria

Yonamine, Taeko; Fukuhara, Marcos; Castro, Nicolau Apoena; Landgraf, Fernando José Gomes; Missell, Frank Patrick; Achete, Carlos Alberto

DOI

10.5151/2594-5327-0382

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Resumo

A finalidade do trabalho é desenvolver processo de produção de fio de aço silício com as menores perdas magnéticas possíveis. O material de partida é o fio máquina de 7,2mm de diâmetro que foi trefilado, processo no qual o fio passa por redução de diâmetro, até diâmetro final de 0,4mm. Cada etapa de trefilação é intercalada por tratamento térmico que visa promover o alívio de tensões e a recristalização do material deformado. Através de trefilações e tratamentos térmicos espera-se chegar no final do processo a um fio de aço silício com baixas perdas magnéticas, que viabilizem a sua utilização como núcleo magnético de um novo tipo de transformador . Assim como é feito no caso das chapas laminadas de aço silício, procuramos melhorar as propriedades magnéticas do fio através do aumento do tamanho de grão e melhoria da textura cristalográfica. As técnicas de difração de raios-X (DRX) e de difração de elétrons retroespalhados (Electron Back Scatter Diffraction; EBSD) foram utilizadas para o acompanhamento da evolução da textura durante o processo de obtenção dos fios.

 

The aim of this work is to develop a process to produce silicon steel wire with the lowest power loss. The starting material is a 7.2mm diameter wire that was reduced to 0.4mm. Heat treatments were applied in order to promote the stress relief and the recrystallization of the strained materials. In the end of the process, composed by successive reductions in diameter and heat treatments, we hope to obtain a silicon steel wire with very low power loss, in order to be used as core material of a new type of transformer. As in the case of steel sheets, we can improve wire magnetic properties by increasing the grain size and improving the crystallographic texture. X- ray diffraction and electron backscatter diffraction techniques were used to accompanying the evolution of texture during the wire production process.


Palavras-chave

Fio de aço silício; Perda magnética; Textura cristalográfica; EBSD

Silicon steel wire; Power loss; Crystallographic texture; EBSD